arXiv · cs.AI· Yunwei Bai, Ying Kiat Tan, Tsuhan Chen·· 19 小时前
PEEK：面向扩散模型采样的一步前瞻曝光偏差校正方法
PEEK: One-Step-Look-Ahead Exposure Bias Correction for Diffusion Sampling
AI 导读
PEEK 是一种无需训练的确定性采样器插件，通过在每个去噪步骤先做一次临时单步更新、在前瞻状态上评估去噪器，再与后一步预测插值形成下一噪声状态，以缓解扩散采样的曝光偏差。
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